아이티엔티, 국산 비메모리테스터 JH200 양산 공정 투입
반도체 검사장비 제조업체 ㈜아이티엔티(IT&T)는 국산 비메모리 테스터 JH200 모델이 양산공정에 투입되었다고 9일 밝혔다. 국내 주요 반도체 업체에 검사 설비를 공급하고 있는 아이티엔트에 따르면 JH200은 웨이퍼 레벨 검사(Wafer Level Test)부터 패키지 검사(Package Test)까지 모두 적용이 가능한 비메모리 검사설비이다. 아이티엔티 측은 시스템온칩 검사기(SOC Tester) 분야의 꾸준한 연구개발과 안정적인 양산경험을 바탕으로, 다양한 고객의 니즈(Needs)에 부합할 수 있도록 프로브 카드(Probe Card) 등을 포함하여 턴키(Turn-key) 방식의 솔루션을 처음으로 제공하였다고 설명했다. JH200은 주파수가 최고 200Mhz인 디지털신호의 테스트가 가능하며 1mV 이내의 높은 정밀도의 DC(직류) 측정도 가능하다. 확장 용이한 플랫폼 아키텍쳐 구조로 테스트하고자 하는 대상(Device)의 제원 및 요구사항에 따라 디지털(Digital)보드, DPS보드, P
by 아이티엔티, 국산 비메모리테스터 JH200 양산 공정 투입
by 아이티엔티, 국산 비메모리테스터 JH200 양산 공정 투입
Post a Comment